°è·®°ª (Continuous Data) |
±æÀÌ,¼ö¸í,¹«°Ô,ÀÎÀå°µµ µî°ú °°ÀÌ
ÃøÁ¤ °ªÀÌ ¿¬¼ÓÀûÀ¸·Î ³ª¿Ã ¼ö Àִ Ư¼º °ªÀ» ¸»ÇÑ´Ù. |
°è¼ö°ª (Discrete Data) |
ºÒ·®Ç°ÀÇ ¼ö,°áÁ¡¼ö µî°ú °°ÀÌ °³¼ö·Î ¼¿ ¼ö ÀÖ´Â Ç°Áú Ư¼º°ªÀ» ÀǹÌÇÑ´Ù.
|
°í°´ÀÇ ¼Ò¸® (Voice of Customer)
|
°í°´ÀÌ ¿øÇÏ´Â ÁÖ°üÀû,Á¤¼ºÀû Ç°ÁúƯ¼ºÀ¸·Î °í°´ÀÇ ¿ä±¸ Ç°ÁúÀ» ÁöĪÇÑ´Ù.
|
°øÁ¤´É·ÂÁö¼ö (Process Capability
Index) |
°øÁ¤¿¡¼ »ý»êµÇ´Â Á¦Ç°ÀÇ Ç°Áú º¯µ¿ÀÌ ¾î´À Á¤µµÀΰ¡¸¦ ¾çÀûÀ¸·Î Á¤·®È½ÃŲ °ªÀ¸·Î °øÁ¤ÀÇ
´É·ÂÀ» ÃøÁ¤ÇÑ Áö¼öÀÌ´Ù. |
°ü¸®ÇÑ°è¼± (Control Limit) |
°ü¸®µµ¿¡¼ º¯µ¿ÀÇ ÇѰ踦 °áÁ¤Áþ´Â ¼±À¸·Î °ü¸®»óÇѼ±(Upper Control
Limit)°ú °ü¸®ÇÏÇѼ±(Lower Control Limit)ÀÌ ÀÖ´Ù. °ü¸®ÇÑ°è¼± ¾È¿¡ ¸ðµç Á¡ÀÌ ÀÖÀ¸¸é °øÁ¤Àº Á¤»ó»óŶó°í ÆÇ´ÜÇÏ°Ô µÈ´Ù.
|
±³È£ÀÛ¿ë(Interaction) |
µÎ ÀÎÀÚ ÀÌ»óÀÇ Æ¯Á¤ÇÑ ÀÎÀÚ¼öÁØÀÇ Á¶ÇÕ¿¡¼ ÀϾ´Â È¿°ú¸¦ ¸»ÇÑ´Ù. |
±Ô°ÝÇÑ°è (Specification
Limit) |
Ç°ÁúƯ¼º¿¡ ´ëÇÏ¿© Çã¿ëµÇ´Â ÇÑ°è °ªÀ¸·Î »óÇѱ԰Ý(Upper Specification
Limit),ÇÏÇÑ ±Ô°Ý(Lower Specification Limit)ÀÌ ÀÖ´Ù. |
³»ºÎ½ÇÆкñ¿ë (Internal Failure
Cost) |
Á¦Ç°ÀÌ °í°´¿¡°Ô Àü´ÞµÇ±â Àü¿¡ ¹®Á¦°¡ ¹ß°ßµÇ¾î À̸¦ ÇØ°áÇϱâ À§ÇÏ¿© ¹ß»ýÇÑ ÀçÀÛ¾÷,Æó±â
µîÀÇ ºñ¿ëÀ» ¸»ÇÑ´Ù. |
´Ü±â°øÁ¤´É·ÂÁö¼ö |
°øÁ¤¿¡ ¿ÜºÎÀû ¿µÇâ, ´Ù½Ã ¸»Çؼ ¿Âµµ º¯È, ÀÛ¾÷ÀÚ º¯°æ,¿øÀÚÀç º¯°æ µîÀÌ ¾ø´Ù°í
ÆǴܵǴ ªÀº ±â°£µ¿¾ÈÀÇ °øÁ¤´É·ÂÀ» ³ªÅ¸³»´Â Áö¼ö |
·£´ý ÃßÃâ (Random Sampling)
|
¸ðÁý´ÜÀ» Àß ´ëÇ¥ÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ¸ðÁý´ÜÀ» ±¸¼ºÇÏ´Â ¸ðµç ¿ø¼Ò¸¶´Ù Ç¥º»À¸·Î ¼±ÅÃµÉ È®·üÀÌ
°°°í, ÇÑ ¿ø¼ÒÀÇ ¼±ÅÃÀÌ ´Ù¸¥ ¿ø¼ÒÀÇ ¼±Åÿ¡ ¿µÇâÀ» ÁÖÁö ¾Êµµ·Ï Ç¥º»À» ÃßÃâÇÏ´Â ¹æ¹ýÀÌ´Ù. ¾î¶² ÀÎÀ§ÀûÀÎ ¿ä¼Ò°¡ ¾øÀÌ ¹«ÀÛÀ§·Î Ç¥º»À» ÃßÃâÇÏ´Â
¹æ¹ýÀ» ÀǹÌÇÑ´Ù. |
·£´ýÇ¥º» (Random Sample) |
·£´ýÃßÃâÀ» ÅëÇÏ¿© ¾ò¾îÁø ¸ðÁý´ÜÀÇ ÀϺÎÀΠǥº». |
¸ð¼ö (Parameter) |
¸ðÆò±Õ,¸ðºÐ»ê,¸ðºñÀ²°ú °°ÀÌ ¸ðÁý´ÜÀÇ Æ¯¼ºÀ» ³ªÅ¸³»´Â Ãøµµ. |
¸ðÁý´Ü (Population) |
Åë°èºÐ¼®ÀÇ ´ë»óÀÌ µÇ´Â ´ÜÀ§ ¿ø¼ÒµéÀÇ ÃÑÁýÇÕ. |
¹«°áÁ¡ (Zero Defects) |
ºÒ·®·üÀÌ 0ÀÎ ÀÌ»óÀûÀÎ Ç°Áú¼öÁØ. |
º¯µ¿(Variation) |
¾î¶² Ư¼º°ª¿¡ ´ëÇÏ¿© °¢ µ¥ÀÌÅÍ°ªµéÀÌ Æò±Õ°ª¿¡¼ ¾ó¸¶³ª ¶³¾îÁ® ÀÖ´ÂÁö¸¦ Á¦°öÀÇ ÇÕÀ¸·Î
³ªÅ¸³½ °ª. |
»ó°ü°è¼ö (Correlation
Coefficient) |
µÎ º¯¼ö »çÀÌÀÇ °áÇÕ °µµ ¹× ¹æÇâÀ» ÃøÁ¤ÇÏ´Â Åë°èÀûÀÎ °ª. |
»ó°üºÐ¼® (Correlation Analysis)
|
¼·Î ´ëÀÀÇÏ´Â µÎ°¡Áö º¯·®ÀÇ »ó°ü°ü°èÀÇ Á¤µµ¸¦ 1¿¡¼ -1±îÁöÀÇ ¹üÀ§¿¡¼ ¼öÄ¡·Î ³ªÅ¸³»´Â
ºÐ¼®¹ý |
¼öÀ²(Yield) |
°øÁ¤ÀÇ °¢ ´Ü°è¿¡¼ ÀçÀÛ¾÷ ¶Ç´Â ºÎÇ°Æó±â µîÀÇ ºÒ·®À» °í·ÁÇÏ¿© °øÁ¤ÀÇ Ç°ÁúÀ» °ü¸®ÇÏ´Â
ÁöÇ¥. |
¿¹¹æºñ¿ë(Preventive Cost) |
Ç°Áú¹®Á¦¸¦ »çÀü¿¡ ÇÇÇϱâ À§Çؼ ¹ß»ýµÈ ±³À°,°èȹ µîÀÇ ºñ¿ë. |
¿ÜºÎ½ÇÆкñ¿ë (External Failure
Cost) |
Á¦Ç°À̳ª ¼ºñ½º°¡ °í°´¿¡°Ô Àü´ÞµÈ ÈÄ ¹®Á¦°¡ ¹ß°ßµÇ¾î À̸¦ ÇØ°áÇϱâ À§ÇÏ¿© ¹ß»ýÇÑ
Ç°Áúº¸Áõ,±³È¯,ȯºÒ,°í°´ºÒ¸¸Ã³¸® µîÀÇ ºñ¿ëÀ» ¸»ÇÑ´Ù. |
À¯ÀǼöÁØ (Significance Level)
|
°¡¼³°ËÁ¤À» ÇÒ ¶§ Á¦1Á¾ ¿À·ù¸¦ ¹üÇÏ´Â ÃÖ´ëÇã¿ëÈ®·ü. |
À¯ÀÇÈ®·ü (Significance
Probability) |
ÈçÈ÷ p°ª(p-value)À̶ó°í ºÎ¸£¸ç °¡¼³°ËÁ¤À» ÇÒ¶§ ±Í¹«°¡¼³ÀÇ ±â°¢¿©ºÎ¸¦ °áÁ¤ÇÒ ¶§
»ç¿ëµÈ´Ù. À¯ÀÇÈ®·üÀÌ »ç¿ëÇÏ°íÀÚ ÇÏ´Â À¯ÀǼöÁغ¸´Ù ÀÛÀ¸¸é ±Í¹«°¡¼³Àº ±â°¢µÉ ¼ö ÀÖ°í, À¯ÀÇÈ®·üÀÌ Å©¸é ±Í¹«°¡¼³À» ±â°¢ÇÒ ¼ö ¾ø°Ô
µÈ´Ù. |
ÀÎÀÚ(Factor) |
Ư¼º°ª¿¡ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â ¿øÀÎ Áß¿¡¼ ½ÇÇè¿¡¼ Ãë±ÞµÈ ¿øÀÎÀ» ¸»ÇÏ¸ç ¿äÀÎÀ̶ó°íµµ ÇÑ´Ù.
|
ÀÚÀ¯µµ (Degree of Freedom)
|
¸ðÁý´ÜÀÇ ¸ð¼ö¸¦ ÃßÁ¤Çϴµ¥ ÇÊ¿äÇÑ µ¶¸³ÀûÀÎ °üÃø°ªÀÇ ¼ö¸¦ ¸»Çϸç, µ¥ÀÌÅÍ ¼ö¿¡¼ ÃßÁ¤Çؾß
ÇÒ ¸ð¼öÀÇ ¼ö¸¦ »« °ªÀ¸·Î Á¤ÀÇÇϱ⵵ ÇÏ°í ºÐ»êºÐ¼®¿¡¼´Â ¼·Î ´Ù¸¥ ÆíÂ÷ÀÇ °³¼ö¿¡¼ ¼±ÇüÁ¦¾à Á¶°ÇÀÇ ¼ö¸¦ »« °ªÀ¸·Î Á¤ÀÇÇÑ´Ù. |
ÀÜÂ÷(Residual) |
Á¾¼Óº¯¼ö¿Í µ¶¸³º¯¼öÀÇ ÇÔ¼ö°ü°è¸¦ ¾î¶² ȸ±Í½ÄÀ¸·Î ³ªÅ¸³»°íÀÚ ÇÒ ¶§ °üÃøµÈ Á¾¼Óº¯¼öÀÇ
°ª°úÀÇ Â÷À̸¦ ³ªÅ¸³½´Ù. ÀÜÂ÷´Â ¼³¸íµÇÁö ¾Ê´Â ÆíÂ÷¸¦ ÀǹÌÇÏ°Ô µÈ´Ù. |
Àå±â°øÁ¤´É·ÂÁö¼ö |
°øÁ¤¿¡ ¿ÜºÎÀû ¿µÇâÀÌ ÀÖ´Ù°í ÆǴܵǴ ÃæºÐÈ÷ ±ä ±â°£ÀÇ °øÁ¤´É·ÂÀ» ³ªÅ¸³»´Â Áö¼ö.
|
ÁÖÈ¿°ú(Main Effect) |
ÀÎÀÚÀÇ ¼öÁغ¯È¿¡ µû¶ó Ư¼º°ªÀÌ º¯ÇÏ´Â È¿°ú¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù. |
Åë°è·® |
Ç¥º»Æò±Õ,Ç¥ºÐºÐ»ê,Ç¥º»ºñÀ²µî°ú °°ÀÌ ¸ð¼ö¸¦ ÃßÁ¤Çϱâ À§ÇÏ¿© Ç¥º» °üÃø°ªµé·ÎºÎÅÍ °è»êµÇ´Â
°ª. |
Åë°èÀû °¡¼³ |
¸ðÁý´Ü¿¡ ´ëÇÑ ÁÖÀåÀ̳ª ÃßÃøÀ» ¸»ÇÏ¸ç ±Í¹«°¡¼³(H0)°ú ´ë¸³°¡¼³(H1)ÀÇ µÎ °¡¼³À»
¼³Á¤ÇÏ¿©, Ç¥º» µ¥ÀÌÅÍÀÇ Á¤º¸¸¦ Åä´ë·Î µÎ °¡¼³ Áß ¾î´Â Çϳª¸¦ äÅÃÇÏ°Ô µÈ´Ù. |
Åë°èÀû °¡¼³ °ËÁ¤ |
Ç¥º»µ¥ÀÌÅ͸¦ ±âÃÊ·Î ½ÇÇèÀÚ°¡ ÁÖÀåÇÏ°í ½ÍÀº °¡¼³ÀÇ ¿Ç°í ±×¸§À» ÆÇÁ¤ÇÏ´Â Åë°è
ÀýÂ÷. |
Ç°Áúºñ¿ë (Cost of Quality:COQ)
|
ÁÁÀº Ç°ÁúÀÇ Á¦Ç°°ú ¼ºñ½º¸¦ ¸¸µå´Âµ¥ »ç¿ëµÈ ¸ðµç ºñ¿ëÀ¸·Î ¿¹¹æºñ¿ë, ³»ºÎ½ÇÆкñ¿ë,
¿ÜºÎ½ÇÆкñ¿ë,±âȸ»ó½Çºñ¿ë µîÀÌ Æ÷ÇԵȴÙ. |
Ç°ÁúƯ¼º |
¹«°Ô,¼ö¸í,°µµ,µðÀÚÀÎ µî°ú °°ÀÌ Á¦Ç°ÀÇ Ç°ÁúÀ» ³ªÅ¸³»´Â ¿ä¼Ò. |
Ç°ÁúƯ¼º°ª |
Ç°ÁúƯ¼ºÀ» ÃøÁ¤ÇÏ¿© ¼öÄ¡·Î Ç¥ÇöÇÑ °Í. |
ȸ±ÍºÐ¼® (Regression Analysis)
|
µÎ °³ ÀÌ»óÀÇ º¯·®À» µ¶¸³º¯¼ö¿Í Á¾¼Óº¯¼ö·Î ³ª´©¾î µ¶¸³º¯¼öÀÇ ÀÏÁ¤°ª°ú Á¾¼Ó º¯¼öÀÇ °ü°è¸¦
³ªÅ¸³»´Â ºÐ¼®¹ý. |
ANOVA (Analysis of
Variance) |
ºÐ»êºÐ¼®, ºÐÆ÷ÀÇ ÆíÂ÷ ¿äÀÎ ¹× »óÈ£°ü°è¸¦ ºÐ¼®ÇÏ¿© ÆíÂ÷ÀÇ ¿øÀÎÀ» Ãß±¸ÇÏ´Â
±â¹ý |
Benchmarking |
°æÀï¿ìÀ§¸¦ ÀïÃëÇϱâ À§ÇÏ¿© »ê¾÷ÀÇ ÃÖ°í¼öÁØÀÇ ±â¼ú ȤÀº ÇÁ·Î¼¼½º¸¦ ¹è¿ö¼ °æ¿µ¼º°ú¸¦
³ôÀÌ·Á´Â ³ë·ÂÀ» ¸»ÇÑ´Ù. ÀϹÝÀûÀ¸·Î ¾÷°èÀÇ ¼±µÎÁÖÀÚ·Î ÀνĵǴ ±â¾÷ÀÇ ¼öÁØ°ú ÀÚ±âȸ»çÀÇ ¼öÁØÀ» ºñ±³ ¿¬±¸ÇÏ¿©, ÀÚ±âȸ»çÀÇ ¼öÁØÀ» Çâ»ó½ÃÅ°°íÀÚ
ÇÏ´Â ÇàÀ§¸¦ ¸»ÇÑ´Ù. |
Black Belt |
6½Ã±×¸¶ Àü¹®°¡·Î¼ °³¼± ÇÁ·ÎÁ§Æ® ÇØ°áÀÇ Àü´ãÀÚÀÌ¸ç ±³À° ¹× ¹®Á¦ ÇØ°áÀ» À§ÇÑ »ó´ãÀڷεµ
È°¾àÇÑ´Ù. |
Blocking |
½ÇÇè Àüü¸¦ µ¿ÁúÀûÀÎ ¸î °³ÀÇ ºí·ÏÀ¸·Î ³ª´« ÈÄ, °¢ ºí·Ï³»¿¡¼ ¿äÀÎÈ¿°ú¸¦ Á¶»çÇÏ´Â °ÍÀ»
¸»ÇÑ´Ù. |
Brain-storming |
ÇÑ ÁÖÁ¦¿¡ ´ëÇÏ¿© °ü°èµÇ´Â »ç¶÷ÀÌ ¸ð¿© Áý´ÜÀÇ È¿°ú¸¦ »ì·Á ¾ÆÀ̵ð¾îÀÇ ¿¬¼â¹ÝÀÀÀ» ÀÏÀ¸Å°°Ô
ÇÔÀ¸·Î½á ÀÚÀ¯ºÐ¹æÇÏ°Ô ¾ÆÀ̵ð¾î¸¦ ³»°Ô ÇÏ´Â ¹æ¹ýÀÌ´Ù. |
Capability Analysis |
ÇÁ·Î¼¼½º°¡ ¿ä±¸(½Ã°£,¼ºñ½º)¸¦ ÃæÁ·½Ãų ´É·ÂÀÌ ÀÖ´ÂÁö ¾Æ´ÑÁö¸¦ ÆÇ´ÜÇÏ´Â ±â¹ý.
|
Champion |
6½Ã±×¸¶ °æ¿µÀÇ ¼ö¸³°ú ½ÇÇà¿¡ ´ëÇÑ Ã¥ÀÓÀڷμ 6½Ã±×¸¶ °æ¿µ¿¡ ´ëÇÑ Áø´Ü°ú Á¡°ËÀ» ÅëÇÏ¿©
Áö¿øÇÏ°í °ü¸®ÇÏ´Â ¿ªÇÒÀ» ´ã´çÇÑ´Ù. |
CS(Capability Study) |
ÇÁ·Î¼¼½º ´É·Â ¿¬±¸, °í°´ÀÇ ¿ä±¸¸¦ ÃæÁ·½ÃÅ°´Â °ÍÀ» ÀüÁ¦·Î °¢ ¿äÀÎÀ» Æò°¡, ÆÇ´ÜÇÑ´Ù.
´É·Â ¸ÅÆ®¸¯½º´Â Cp, Cpk, Cpu, Cpl, Zst(´Ü±â Z°ª),Zlt (Àå±â Z°ª),PPM,DPUµî 8°¡Áö·Î
ÀÌ·ç¾îÁø´Ù. |
COPQ (Cost of Poor Quality)
|
ÀúÇ°Áú·Î ÀÎÇÑ ÃѺñ¿ëÀ» ÀǹÌÇϴµ¥, ¿©±â¿¡´Â °Ë»ç°ø¼ö, ÀçÀÛ¾÷ µîÀÇ ´«¿¡ º¸ÀÌ´Â ÄÚ½ºÆ®¿Í
ºê·£µå À̹ÌÁöÀÇ ÀúÇÏ,¸ÅÃâ±âȸ ¼Õ½Ç, Àç¹ßÁÖ ºñ¿ë,Àç¼³°èºñ¿ë µî ´«¿¡ º¸ÀÌÁö ¾Ê´Â ÄÚ½ºÆ®°¡ Æ÷ÇԵȴÙ. |
CPR# (Customer Priority
Rank Number) |
VOCÀÇ ¿ì¼±µµ, °í°´ ¿ä±¸ÀÇ ¿ì¼±¼øÀ§¸¦ ¼³Á¤ÇÏ´Â ±âÁØ |
CSI (Chart-Solve -Implementation) |
6½Ã±×¸¶¿¡¼ Àû¿ëµÇ´Â ¹®Á¦ÇØ°áÀÇ ÀýÂ÷ Áß Çϳª·Î,DMAIC¿Í ¸Æ¶ôÀ» °°ÀÌÇÑ´Ù.C´Ü°è´Â
¹®Á¦ÀÇ Çؼ®À» S´Ü°è´Â ¹®Á¦ÀÇ ÇØ°áÀ» I´Ü°è´Â ½ÇÇàÀ» ¶æÇÑ´Ù. |
CSM (CharacteristicSelection Matrix) |
Ư¼º¼±Á¤ ¸ÅÆ®¸¯½º, ÀÛ¼º1´Ü°è¿¡¼´Â »ùÇøµ °èȹÀ» ÀÛ¼º2´Ü°è¿¡¼´Â ´Ü±â¿ÍÀå±âÀÇ Ç¥ÁØÆíÂ÷¸¦
»êÃâÇÏ°í Á¦Ç°°ú ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ÆÛÆ÷¸Õ½º ±âÁؼ±À» ¼³Á¤ÇÑ´Ù. 3´Ü°è¿¡¼´Â ÇÁ·Î¼¼½ºÀÇ ÀáÀçÀû ÆÛÆ÷¸Õ½º¸¦ »êÃâ·ÃßÁ¤ÇÏ°í »êÆ÷¸¦ Á¦°ÅÇÒ ±âȸ¸¦ ¸íÈ®È÷
ÇÑ´Ù. 4´Ü°è¿¡¼´Â ´Ü±â,Àå±â Z°ª°ú Ç¥ÁØÆíÂ÷¸¦ ºÐ¼®ÇØ ±×·¡ÇÁ·Î ¸¸µç´Ù. 5´Ü°è¿¡¼´Â Z°ªÀ» ¹Ù²ãº»´Ù. 6´Ü°è¿¡¼´Â ¸ñÇ¥±¸°£ÀÇ ¹æÇâÀ» °áÁ¤ÇÏ°í
¼öġȸµÇ¾î ÀÖ´Â ¸ñÇ¥¿¡ ¹ÙÅÁÇÏ¿© °èȹÀ» ¼ö¸³ÇÑ´Ù. |
CTQ(Critical to Quality) |
Á¦Ç°À̳ª ¼ºñ½º ȤÀº °øÁ¤ÀÇ Æ¯¼º°ªÀ¸·Î¼ °í°´¿¡°Ô Ä¡¸íÀûÀÌ°í Áö±ØÈ÷ Áß¿äÇÑ ¿ä¼Ò.
6½Ã±×¸¶ÀÇ ÁÖ¿äÇÑ Áöµµ¿ø¸® Áß ÇϳªÀÌ´Ù. |
DFSS (Design for six sigma)
|
R&DºÎ¹®À» À§ÇÑ 6½Ã±×¸¶ ü°è¸¦ ¸»ÇÑ´Ù. |
DMAIC (Define-Measure- Analyze-Improve- Control) |
6½Ã±×¸¶¿¡¼ Àû¿ëµÇ´Â ¹®Á¦ÇØ°áÀÇ ÀýÂ÷ Áß Çϳª·Î,CSI¿Í ¸Æ¶ôÀ» °°ÀÌÇÑ´Ù.D´Â Á¤ÀǸ¦,
MÀº ÃøÁ¤À», A´Â ºÐ¼®À», I´Â °³¼±À», C´Â °ü¸®¸¦ ¶æÇÑ´Ù. |
DOE (Design of Experiment)
|
½ÇÇè°èȹ¹ýÀÇ ¿µ¾î ¾àÀڷμ ½ÇÇèÀ» ÅëÇÑ Á¤º¸ÀÇ È¿À²Àû ȹµæ°ú °ü¸®¸¦ ´Ù·ç´Â Åë°èÇÐÀÇ
ºÐ¾ß. |
DPMO (Defect per Million
Opportunity) |
¹é¸¸°³ ±âȸ´ç °áÇÔ¼ö. |
DPO (Defect per Opportunity)
|
°áÇÔÀÌ ¹ß»ýÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±âȸ´ç ³ªÅ¸³¯ ¼ö ÀÖ´Â °áÇÔ¼ö¸¦ ÀǹÌÇϸç, ¹ß»ýÇÑ °áÇÔ¼ö¸¦ Àüü
±âȸ¼ö·Î ³ª´©¾î °è»êÇÑ´Ù. |
DPU(Defect per Unit) |
ÇϳªÀÇ ´ÜÀ§¿¡ Á¸ÀçÇÏ´Â °áÇÔ¼öÀÇ ºñÀ²À» ÀǹÌÇϸç, ¹ß»ýÇÑ °áÇÔ¼ö¸¦ Àüü ´ÜÀ§¼ö·Î ³ª´©¾î¼
°è»êÇÑ´Ù. |
FMEA (Failure Mode and
Effect Analysis) |
°íÀå¸ðµå ¿µÇâºÐ¼®ÀÇ ¾àÀÚ·Î ½Ã½ºÅÛÀ» ±¸¼ºÇÏ°í ÀÖ´Â ºÎÇ°µéÀÇ °íÀå¸ðµå°¡ ½Ã½ºÅÛ°ú Ÿ ºÎÇ°¿¡
¹ÌÄ¡´Â ¿µÇâ,°íÀå¿øÀÎ µîÀ» ¹Ø¿¡¼ À§·Î Á¶»çÇÏ´Â ¹æ¹ýÀÌ´Ù. |
Gage R&R |
ÃøÁ¤½Ã½ºÅÛ ÀÚü°¡ °øÁ¤ÀÇ º¯µ¿°ª¿¡ ¾ó¸¶³ª ¿µÇâÀ» ÁÖ´ÂÁö¸¦ °ËÅäÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ̸ç, ÃøÁ¤ÀÇ
¹Ýº¹¼º°ú ÀçÇö¼ºÀ¸·Î ±¸¼ºµÈ´Ù. |
Green Belt |
°úÇÐÀûÀÎ ±â¹ýÀ» È°¿ëÇØ ¹®Á¦¸¦ ÇØ°áÇÏ´Â 6½Ã±×¸¶ °³¼± È°µ¿ Àü¹®°¡·Î¼ °³¼±ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿Í
´ã´ç¾÷¹«¸¦ º´ÇàÇÏ¿© ¼öÇàÇÑ´Ù. |
HOQ(House of Quality) |
Ç°ÁúÀÇ ÁýÀÇ ¾àÀÚ·Î, ƯÈ÷ ½ÅÁ¦Ç°À» °³¹ßÇÒ ¶§ ³íÀǸ¦ °¡´ÉÄÉ ÇØÁÖ´Â Ç°Áú±â´É Àü°³ÀÇ
Çٽɼö´ÜÀÌ´Ù. |
KPIV (Key Process Input
Variable) |
ÇÁ·Î¼¼½ºÀÇ input¿äÀÎÀ» ÃÑĪÇÏ´Â ¸»,¿¹¸¦ µé¾î ÄÚ½ºÆ®,½Ã°£,ºóµµ µîÀÌ ¿©±â¿¡
ÇØ´çÇÑ´Ù. |
KPOV (Key Process Output
Variable) |
ÇÁ·Î¼¼½ºÀÇ ÁÖ¿ä outputº¯¼ö °¢ ÇÁ·Î¼¼½º°¡ ³ºÀº ¼º°ú·Î¼ ¿äÀΰ£ Àΰú°ü°è°¡ KPOV¸¦
Á¿ìÇÑ´Ù. KPOV´Â CTQ, VOC¿ÍÀÇ Á¤ÇÕ¼ºÀÌ Áß¿äÇÏ´Ù. |
Malcolm Baldrige award |
¹Ì±¹¿¡¼ Ç°Áú Çâ»óÀ» ¸ñÀûÀ¸·Î 1987³âºÎÅÍ Á¦Á¶ºÎ¹®,¼ºñ½ººÎ¹®,Áß¼Ò±â¾÷ºÎ¹®À¸·Î ³ª´©¾î
±â¾÷¿¡°Ô ¼ö¿©ÇÏ´Â Ç°Áú°æ¿µ»óÀÌ´Ù. |
Master Black Belt |
6½Ã±×¸¶ °æ¿µÀü¹®°¡·Î¼ °³¼± ÇÁ·ÎÁ§Æ® ½ÇÇàÀÇ Áöµµ Àü´ãÀڷμ ºí·¢º§Æ®°¡ ¼öÇàÇÏ´Â
ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿¡ ´ëÇÑ ÀÚ¹®°ú Áöµµ¸¦ Çϸç, ½ÇÇà°úÁ¤¿¡¼ »ý±â´Â °¢Á¾ ¾Ö·Î »çÇ×À» ÇØ°áÇÏ°í Áö¿øÇÑ´Ù. |
MSA (Measurement System
Analysis) |
ÃøÁ¤½Ã½ºÅÛ ºÐ¼®, ÃøÁ¤½Ã½ºÅÛ¿¡ °ü·ÃµÈ ÃøÁ¤ µ¥ÀÌÅÍÀÇ ÆíÂ÷ÀÇ ÇüÅÂ¿Í ¾ç¿¡ °üÇÑ Á¤º¸¸¦ ¾ò´Â
°Í. »õ·Î¿î ÃøÁ¤±â±â¸¦ ÀÎÁ¤Çϱâ À§ÇÑ ±âÁØÀ» Á¤ºñÇÑ´Ù. |
PPM(Parts per Million) |
ºÒ·®·üÀ» ¹é¸¸ ´ÜÀ§·Î ȯ»êÇÑ °ªÀ¸·Î ¹é¸¸ °³ÀÇ Á¦Ç°´ç ºÒ·®Ç°ÀÌ ÃâÇöÇÏ´Â ¼ýÀÚ¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.
|
Process |
°í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡ ÀÇÇÏ¿© ÀÚ¿ø ¹× Á¤º¸¸¦ Á¦Ç°°ú ¼ºñ½º·Î º¯È¯½ÃÅ°´Âµ¥ ÇÊ¿äÇÑ ÀÏ·ÃÀÇ
È°µ¿°ú ÀÛ¾÷À» ¸»ÇÑ´Ù |
Process Map |
ÇÁ·Î¼¼½º¸¦ ±×¸²À¸·Î ±¸Ã¼È½ÃÅ´À¸·Î½á ÇÁ·Î¼¼½º°¡ ¼öÇàµÇ´Â °úÁ¤À» ½Ã°è¿º°,±â´Éº° ȤÀº ´ã´ç
ºÎ¼º°·Î ³ªÅ¸³»°í °¢ ºÎºÐÀÇ ¿¬°á°úÁ¤À» µµ½ÄÈÇÑ °ÍÀÌ´Ù. |
QFD (Quality Function
Deployment) |
Ç°Áú±â´ÉÀü°³ÀÇ ¿µ¾î¾àÀڷμ, ÆÄ¾ÇµÈ °í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡¼ Ãâ¹ßÇÏ¿© ½ÅÁ¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ
°³³äÁ¤¸³,¼³°è,ºÎÇ°Àü°³,°øÁ¤Àü°³,Á¦Á¶Àü°³±îÁö ¸ðµç ´Ü°è¸¦ ÅëÇÏ¿© °í°´ÀÌ ¿øÇÏ´Â ¹Ù°¡ ÇÁ·Î¼¼½º ³»ÀÇ °¢ ±â´É°ú ¾î¶² °ü°è¸¦ ¸Î°í ÀÖ´ÂÁö Àü°³ÇÏ´Â
°ÍÀÌ´Ù |
RSM (Response Surface
Methodology) |
¹ÝÀÀÇ¥¸éºÐ¼®ÀÇ ¿µ¾î ¾àÀڷμ ¹ÝÀÀº¯¼ö¿Í ¼³¸íº¯¼öµé°£ÀÇ °ü°è¸¦ ±Ô¸íÇÏ°í ÃÖÀûÁ¶°ÇÀ» ã´Â
°ÍÀÌ ÁÖ¸ñÀûÀÎ Åë°èÀû ºÐ¼®¹æ¹ýÀÌ´Ù. |
RTY (Rolled Throughput
Yield) |
Á¾ÇÕ ¼öÀ², ÀüüÀûÀÎ ¼öÀ²°ú °¢ ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ¼öÀ²ÀÇ °ü°è¸¦ ±¸Ã¼ÈÇÏ´Â
°³³ä. |
Screening |
½ÇÇèÀ» ÇÒ¶§ ¼±Á¤µÈ ¸¹Àº ÀÎÀÚ Áß¿¡¼ ¾î¶² ÀÎÀÚ°¡ Áß¿äÇÑ°¡¸¦ ´Ü°èÀûÀ¸·Î ¼±º°ÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ»
ÁöĪÇÑ´Ù. |
SPC (Statistical Process
Control) |
Åë°èÀû °øÁ¤°ü¸®ÀÇ ¿µ¾î¾àÀڷμ Ç°Áú±Ô°Ý¿¡ ÇÕ°ÝÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Á¦Ç°À» ¸¸µé¾î ³»±â À§ÇÏ¿©
Åë°èÀû ¹æ¹ý¿¡ ÀÇÇÏ¿© °øÁ¤À» °ü¸®ÇØ ³ª°¡´Â ±â¹ýÀ» Á¾ÇÕÇÏ¿© ¸»ÇÑ´Ù |
TDU (Total Defects Per Unit)
|
ÇÁ·Î¼¼½º¸¦ ±¸¼ºÇÏ´Â ´ÜÀ§´ç °áÇÔ ¼ö. |
TOP (Total Opportunities) |
ÃÑ ¿¡·¯ ¹ß»ý±âȸ ¼ö=´ÜÀ§ ¼ö X ¿¡·¯ ±âȸ ¼ö |
Vital Few |
Ãâ·Â Ư¼ºÄ¡¿¡ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â ¿äÀÎ Áß¿¡¼ Ä¿´Ù¶õ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â Ä¡¸íÀû ¼Ò¼öÀÎÀÚ¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.
|
Z-Transform |
´ÜÀ§ºÐÆ÷·Î º¯È¯ÇÏ´Â °ø½Ä. Zº¯È¯=(°æ°è°ª-Æò±Õ°ª)/Ç¥ÁØÆíÂ÷ |
Zst |
´Ü±â Z°ª, ´Ü±â´É·ÂÀ» ¸»Çϸç 30-50ÀÇ µ¥ÀÌÅÍ Æ÷ÀÎÆ®·Î ÀÌ·ç¾îÁö´Â ½Ã°£(ÀÏ,ÁÖ)´ÜÀ§ÀÇ
´É·ÂÀ» Ç¥½Ã |
Zlt |
Àå±â Z°ª, Àå±â´É·ÂÀ» ¸»Çϸç 100-200ÀÇ µ¥ÀÌÅÍ Æ÷ÀÎÆ®·Î ÀÌ·ç¾îÁö´Â
½Ã°£(ÁÖ,¿ù)´ÜÀ§ÀÇ ´É·ÂÀ» Ç¥½Ã |