6¥ò ¿¬°è TPMÃßÁø ¹æ¹ý·Ð

6 ½Ã±×¸¶ °ü·Ã ¿ë¾îÀÇ Á¤¸®

 6 ½Ã±×¸¶ °ü·Ã ¿ë¾î 

°è·®°ª
(Continuous Data)

±æÀÌ,¼ö¸í,¹«°Ô,ÀÎÀå°­µµ µî°ú °°ÀÌ ÃøÁ¤ °ªÀÌ ¿¬¼ÓÀûÀ¸·Î ³ª¿Ã ¼ö Àִ Ư¼º °ªÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

°è¼ö°ª
(Discrete Data)

ºÒ·®Ç°ÀÇ ¼ö,°áÁ¡¼ö µî°ú °°ÀÌ °³¼ö·Î ¼¿ ¼ö ÀÖ´Â Ç°Áú Ư¼º°ªÀ» ÀǹÌÇÑ´Ù.

°í°´ÀÇ ¼Ò¸®
(Voice of Customer)

°í°´ÀÌ ¿øÇÏ´Â ÁÖ°üÀû,Á¤¼ºÀû Ç°ÁúƯ¼ºÀ¸·Î °í°´ÀÇ ¿ä±¸ Ç°ÁúÀ» ÁöĪÇÑ´Ù.

°øÁ¤´É·ÂÁö¼ö
(Process Capability Index)

°øÁ¤¿¡¼­ »ý»êµÇ´Â Á¦Ç°ÀÇ Ç°Áú º¯µ¿ÀÌ ¾î´À Á¤µµÀΰ¡¸¦ ¾çÀûÀ¸·Î Á¤·®È­½ÃŲ °ªÀ¸·Î °øÁ¤ÀÇ ´É·ÂÀ» ÃøÁ¤ÇÑ Áö¼öÀÌ´Ù.

°ü¸®ÇÑ°è¼±
(Control Limit)

°ü¸®µµ¿¡¼­ º¯µ¿ÀÇ ÇѰ踦 °áÁ¤Áþ´Â ¼±À¸·Î °ü¸®»óÇѼ±(Upper Control Limit)°ú °ü¸®ÇÏÇѼ±(Lower Control Limit)ÀÌ ÀÖ´Ù. °ü¸®ÇÑ°è¼± ¾È¿¡ ¸ðµç Á¡ÀÌ ÀÖÀ¸¸é °øÁ¤Àº Á¤»ó»óŶó°í ÆÇ´ÜÇÏ°Ô µÈ´Ù.

±³È£ÀÛ¿ë(Interaction)

µÎ ÀÎÀÚ ÀÌ»óÀÇ Æ¯Á¤ÇÑ ÀÎÀÚ¼öÁØÀÇ Á¶ÇÕ¿¡¼­ ÀϾ´Â È¿°ú¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.

±Ô°ÝÇÑ°è
(Specification Limit)

Ç°ÁúƯ¼º¿¡ ´ëÇÏ¿© Çã¿ëµÇ´Â ÇÑ°è °ªÀ¸·Î »óÇѱ԰Ý(Upper Specification Limit),ÇÏÇÑ ±Ô°Ý(Lower Specification Limit)ÀÌ ÀÖ´Ù.

³»ºÎ½ÇÆкñ¿ë
(Internal Failure Cost)

Á¦Ç°ÀÌ °í°´¿¡°Ô Àü´ÞµÇ±â Àü¿¡ ¹®Á¦°¡ ¹ß°ßµÇ¾î À̸¦ ÇØ°áÇϱâ À§ÇÏ¿© ¹ß»ýÇÑ ÀçÀÛ¾÷,Æó±â µîÀÇ ºñ¿ëÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

´Ü±â°øÁ¤´É·ÂÁö¼ö

°øÁ¤¿¡ ¿ÜºÎÀû ¿µÇâ, ´Ù½Ã ¸»Çؼ­ ¿Âµµ º¯È­, ÀÛ¾÷ÀÚ º¯°æ,¿øÀÚÀç º¯°æ µîÀÌ ¾ø´Ù°í ÆǴܵǴ ªÀº ±â°£µ¿¾ÈÀÇ °øÁ¤´É·ÂÀ» ³ªÅ¸³»´Â Áö¼ö

·£´ý ÃßÃâ
(Random Sampling)

¸ðÁý´ÜÀ» Àß ´ëÇ¥ÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ¸ðÁý´ÜÀ» ±¸¼ºÇÏ´Â ¸ðµç ¿ø¼Ò¸¶´Ù Ç¥º»À¸·Î ¼±ÅÃµÉ È®·üÀÌ °°°í, ÇÑ ¿ø¼ÒÀÇ ¼±ÅÃÀÌ ´Ù¸¥ ¿ø¼ÒÀÇ ¼±Åÿ¡ ¿µÇâÀ» ÁÖÁö ¾Êµµ·Ï Ç¥º»À» ÃßÃâÇÏ´Â ¹æ¹ýÀÌ´Ù. ¾î¶² ÀÎÀ§ÀûÀÎ ¿ä¼Ò°¡ ¾øÀÌ ¹«ÀÛÀ§·Î Ç¥º»À» ÃßÃâÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ» ÀǹÌÇÑ´Ù.

·£´ýÇ¥º»
(Random Sample)

·£´ýÃßÃâÀ» ÅëÇÏ¿© ¾ò¾îÁø ¸ðÁý´ÜÀÇ ÀϺÎÀΠǥº».

¸ð¼ö (Parameter)

¸ðÆò±Õ,¸ðºÐ»ê,¸ðºñÀ²°ú °°ÀÌ ¸ðÁý´ÜÀÇ Æ¯¼ºÀ» ³ªÅ¸³»´Â Ãøµµ.

¸ðÁý´Ü (Population)

Åë°èºÐ¼®ÀÇ ´ë»óÀÌ µÇ´Â ´ÜÀ§ ¿ø¼ÒµéÀÇ ÃÑÁýÇÕ.

¹«°áÁ¡ (Zero Defects)

ºÒ·®·üÀÌ 0ÀÎ ÀÌ»óÀûÀÎ Ç°Áú¼öÁØ.

º¯µ¿(Variation)

¾î¶² Ư¼º°ª¿¡ ´ëÇÏ¿© °¢ µ¥ÀÌÅÍ°ªµéÀÌ Æò±Õ°ª¿¡¼­ ¾ó¸¶³ª ¶³¾îÁ® ÀÖ´ÂÁö¸¦ Á¦°öÀÇ ÇÕÀ¸·Î ³ªÅ¸³½ °ª.

»ó°ü°è¼ö
(Correlation Coefficient)

µÎ º¯¼ö »çÀÌÀÇ °áÇÕ °­µµ ¹× ¹æÇâÀ» ÃøÁ¤ÇÏ´Â Åë°èÀûÀÎ °ª.

»ó°üºÐ¼®
(Correlation Analysis)

¼­·Î ´ëÀÀÇÏ´Â µÎ°¡Áö º¯·®ÀÇ »ó°ü°ü°èÀÇ Á¤µµ¸¦ 1¿¡¼­ -1±îÁöÀÇ ¹üÀ§¿¡¼­ ¼öÄ¡·Î ³ªÅ¸³»´Â ºÐ¼®¹ý

¼öÀ²(Yield)

°øÁ¤ÀÇ °¢ ´Ü°è¿¡¼­ ÀçÀÛ¾÷ ¶Ç´Â ºÎÇ°Æó±â µîÀÇ ºÒ·®À» °í·ÁÇÏ¿© °øÁ¤ÀÇ Ç°ÁúÀ» °ü¸®ÇÏ´Â ÁöÇ¥.

¿¹¹æºñ¿ë(Preventive Cost)

Ç°Áú¹®Á¦¸¦ »çÀü¿¡ ÇÇÇϱâ À§Çؼ­ ¹ß»ýµÈ ±³À°,°èȹ µîÀÇ ºñ¿ë.

¿ÜºÎ½ÇÆкñ¿ë
(External Failure Cost)

Á¦Ç°À̳ª ¼­ºñ½º°¡ °í°´¿¡°Ô Àü´ÞµÈ ÈÄ ¹®Á¦°¡ ¹ß°ßµÇ¾î À̸¦ ÇØ°áÇϱâ À§ÇÏ¿© ¹ß»ýÇÑ Ç°Áúº¸Áõ,±³È¯,ȯºÒ,°í°´ºÒ¸¸Ã³¸® µîÀÇ ºñ¿ëÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

À¯ÀǼöÁØ
(Significance Level)

°¡¼³°ËÁ¤À» ÇÒ ¶§ Á¦1Á¾ ¿À·ù¸¦ ¹üÇÏ´Â ÃÖ´ëÇã¿ëÈ®·ü.

À¯ÀÇÈ®·ü
(Significance Probability)

ÈçÈ÷ p°ª(p-value)À̶ó°í ºÎ¸£¸ç °¡¼³°ËÁ¤À» ÇÒ¶§ ±Í¹«°¡¼³ÀÇ ±â°¢¿©ºÎ¸¦ °áÁ¤ÇÒ ¶§ »ç¿ëµÈ´Ù. À¯ÀÇÈ®·üÀÌ »ç¿ëÇÏ°íÀÚ ÇÏ´Â À¯ÀǼöÁغ¸´Ù ÀÛÀ¸¸é ±Í¹«°¡¼³Àº ±â°¢µÉ ¼ö ÀÖ°í, À¯ÀÇÈ®·üÀÌ Å©¸é ±Í¹«°¡¼³À» ±â°¢ÇÒ ¼ö ¾ø°Ô µÈ´Ù.

ÀÎÀÚ(Factor)

Ư¼º°ª¿¡ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â ¿øÀÎ Áß¿¡¼­ ½ÇÇè¿¡¼­ Ãë±ÞµÈ ¿øÀÎÀ» ¸»ÇÏ¸ç ¿äÀÎÀ̶ó°íµµ ÇÑ´Ù.

ÀÚÀ¯µµ
(Degree of Freedom)

¸ðÁý´ÜÀÇ ¸ð¼ö¸¦ ÃßÁ¤Çϴµ¥ ÇÊ¿äÇÑ µ¶¸³ÀûÀÎ °üÃø°ªÀÇ ¼ö¸¦ ¸»Çϸç, µ¥ÀÌÅÍ ¼ö¿¡¼­ ÃßÁ¤ÇØ¾ß ÇÒ ¸ð¼öÀÇ ¼ö¸¦ »« °ªÀ¸·Î Á¤ÀÇÇϱ⵵ ÇÏ°í ºÐ»êºÐ¼®¿¡¼­´Â ¼­·Î ´Ù¸¥ ÆíÂ÷ÀÇ °³¼ö¿¡¼­ ¼±ÇüÁ¦¾à Á¶°ÇÀÇ ¼ö¸¦ »« °ªÀ¸·Î Á¤ÀÇÇÑ´Ù.

ÀÜÂ÷(Residual)

Á¾¼Óº¯¼ö¿Í µ¶¸³º¯¼öÀÇ ÇÔ¼ö°ü°è¸¦ ¾î¶² ȸ±Í½ÄÀ¸·Î ³ªÅ¸³»°íÀÚ ÇÒ ¶§ °üÃøµÈ Á¾¼Óº¯¼öÀÇ °ª°úÀÇ Â÷À̸¦ ³ªÅ¸³½´Ù. ÀÜÂ÷´Â ¼³¸íµÇÁö ¾Ê´Â ÆíÂ÷¸¦ ÀǹÌÇÏ°Ô µÈ´Ù.

Àå±â°øÁ¤´É·ÂÁö¼ö

°øÁ¤¿¡ ¿ÜºÎÀû ¿µÇâÀÌ ÀÖ´Ù°í ÆǴܵǴ ÃæºÐÈ÷ ±ä ±â°£ÀÇ °øÁ¤´É·ÂÀ» ³ªÅ¸³»´Â Áö¼ö.

ÁÖÈ¿°ú(Main Effect)

ÀÎÀÚÀÇ ¼öÁغ¯È­¿¡ µû¶ó Ư¼º°ªÀÌ º¯ÇÏ´Â È¿°ú¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.

Åë°è·®

Ç¥º»Æò±Õ,Ç¥ºÐºÐ»ê,Ç¥º»ºñÀ²µî°ú °°ÀÌ ¸ð¼ö¸¦ ÃßÁ¤Çϱâ À§ÇÏ¿© Ç¥º» °üÃø°ªµé·ÎºÎÅÍ °è»êµÇ´Â °ª.

Åë°èÀû °¡¼³

¸ðÁý´Ü¿¡ ´ëÇÑ ÁÖÀåÀ̳ª ÃßÃøÀ» ¸»ÇÏ¸ç ±Í¹«°¡¼³(H0)°ú ´ë¸³°¡¼³(H1)ÀÇ µÎ °¡¼³À» ¼³Á¤ÇÏ¿©, Ç¥º» µ¥ÀÌÅÍÀÇ Á¤º¸¸¦ Åä´ë·Î µÎ °¡¼³ Áß ¾î´Â Çϳª¸¦ äÅÃÇÏ°Ô µÈ´Ù.

Åë°èÀû °¡¼³ °ËÁ¤

Ç¥º»µ¥ÀÌÅ͸¦ ±âÃÊ·Î ½ÇÇèÀÚ°¡ ÁÖÀåÇÏ°í ½ÍÀº °¡¼³ÀÇ ¿Ç°í ±×¸§À» ÆÇÁ¤ÇÏ´Â Åë°è ÀýÂ÷.

Ç°Áúºñ¿ë
(Cost of Quality:COQ)

ÁÁÀº Ç°ÁúÀÇ Á¦Ç°°ú ¼­ºñ½º¸¦ ¸¸µå´Âµ¥ »ç¿ëµÈ ¸ðµç ºñ¿ëÀ¸·Î ¿¹¹æºñ¿ë, ³»ºÎ½ÇÆкñ¿ë, ¿ÜºÎ½ÇÆкñ¿ë,±âȸ»ó½Çºñ¿ë µîÀÌ Æ÷ÇԵȴÙ.

Ç°ÁúƯ¼º

¹«°Ô,¼ö¸í,°­µµ,µðÀÚÀÎ µî°ú °°ÀÌ Á¦Ç°ÀÇ Ç°ÁúÀ» ³ªÅ¸³»´Â ¿ä¼Ò.

Ç°ÁúƯ¼º°ª

Ç°ÁúƯ¼ºÀ» ÃøÁ¤ÇÏ¿© ¼öÄ¡·Î Ç¥ÇöÇÑ °Í.

ȸ±ÍºÐ¼®
(Regression Analysis)

µÎ °³ ÀÌ»óÀÇ º¯·®À» µ¶¸³º¯¼ö¿Í Á¾¼Óº¯¼ö·Î ³ª´©¾î µ¶¸³º¯¼öÀÇ ÀÏÁ¤°ª°ú Á¾¼Ó º¯¼öÀÇ °ü°è¸¦ ³ªÅ¸³»´Â ºÐ¼®¹ý.

ANOVA
(Analysis of Variance)

ºÐ»êºÐ¼®, ºÐÆ÷ÀÇ ÆíÂ÷ ¿äÀÎ ¹× »óÈ£°ü°è¸¦ ºÐ¼®ÇÏ¿© ÆíÂ÷ÀÇ ¿øÀÎÀ» Ãß±¸ÇÏ´Â ±â¹ý

Benchmarking

°æÀï¿ìÀ§¸¦ ÀïÃëÇϱâ À§ÇÏ¿© »ê¾÷ÀÇ ÃÖ°í¼öÁØÀÇ ±â¼ú ȤÀº ÇÁ·Î¼¼½º¸¦ ¹è¿ö¼­ °æ¿µ¼º°ú¸¦ ³ôÀÌ·Á´Â ³ë·ÂÀ» ¸»ÇÑ´Ù. ÀϹÝÀûÀ¸·Î ¾÷°èÀÇ ¼±µÎÁÖÀÚ·Î ÀνĵǴ ±â¾÷ÀÇ ¼öÁØ°ú ÀÚ±âȸ»çÀÇ ¼öÁØÀ» ºñ±³ ¿¬±¸ÇÏ¿©, ÀÚ±âȸ»çÀÇ ¼öÁØÀ» Çâ»ó½ÃÅ°°íÀÚ ÇÏ´Â ÇàÀ§¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.

Black Belt

6½Ã±×¸¶ Àü¹®°¡·Î¼­ °³¼± ÇÁ·ÎÁ§Æ® ÇØ°áÀÇ Àü´ãÀÚÀÌ¸ç ±³À° ¹× ¹®Á¦ ÇØ°áÀ» À§ÇÑ »ó´ãÀڷεµ È°¾àÇÑ´Ù.

Blocking

½ÇÇè Àüü¸¦ µ¿ÁúÀûÀÎ ¸î °³ÀÇ ºí·ÏÀ¸·Î ³ª´« ÈÄ, °¢ ºí·Ï³»¿¡¼­ ¿äÀÎÈ¿°ú¸¦ Á¶»çÇÏ´Â °ÍÀ» ¸»ÇÑ´Ù. 

Brain-storming

ÇÑ ÁÖÁ¦¿¡ ´ëÇÏ¿© °ü°èµÇ´Â »ç¶÷ÀÌ ¸ð¿© Áý´ÜÀÇ È¿°ú¸¦ »ì·Á ¾ÆÀ̵ð¾îÀÇ ¿¬¼â¹ÝÀÀÀ» ÀÏÀ¸Å°°Ô ÇÔÀ¸·Î½á ÀÚÀ¯ºÐ¹æÇÏ°Ô ¾ÆÀ̵ð¾î¸¦ ³»°Ô ÇÏ´Â ¹æ¹ýÀÌ´Ù.

Capability Analysis

ÇÁ·Î¼¼½º°¡ ¿ä±¸(½Ã°£,¼­ºñ½º)¸¦ ÃæÁ·½Ãų ´É·ÂÀÌ ÀÖ´ÂÁö ¾Æ´ÑÁö¸¦ ÆÇ´ÜÇÏ´Â ±â¹ý.

Champion

6½Ã±×¸¶ °æ¿µÀÇ ¼ö¸³°ú ½ÇÇà¿¡ ´ëÇÑ Ã¥ÀÓÀڷμ­ 6½Ã±×¸¶ °æ¿µ¿¡ ´ëÇÑ Áø´Ü°ú Á¡°ËÀ» ÅëÇÏ¿© Áö¿øÇÏ°í °ü¸®ÇÏ´Â ¿ªÇÒÀ» ´ã´çÇÑ´Ù.

CS(Capability Study)

ÇÁ·Î¼¼½º ´É·Â ¿¬±¸, °í°´ÀÇ ¿ä±¸¸¦ ÃæÁ·½ÃÅ°´Â °ÍÀ» ÀüÁ¦·Î °¢ ¿äÀÎÀ» Æò°¡, ÆÇ´ÜÇÑ´Ù. ´É·Â ¸ÅÆ®¸¯½º´Â Cp, Cpk, Cpu, Cpl, Zst(´Ü±â Z°ª),Zlt (Àå±â Z°ª),PPM,DPUµî 8°¡Áö·Î ÀÌ·ç¾îÁø´Ù.

COPQ
(Cost of Poor Quality)

ÀúÇ°Áú·Î ÀÎÇÑ ÃѺñ¿ëÀ» ÀǹÌÇϴµ¥, ¿©±â¿¡´Â °Ë»ç°ø¼ö, ÀçÀÛ¾÷ µîÀÇ ´«¿¡ º¸ÀÌ´Â ÄÚ½ºÆ®¿Í ºê·£µå À̹ÌÁöÀÇ ÀúÇÏ,¸ÅÃâ±âȸ ¼Õ½Ç, Àç¹ßÁÖ ºñ¿ë,Àç¼³°èºñ¿ë µî ´«¿¡ º¸ÀÌÁö ¾Ê´Â ÄÚ½ºÆ®°¡ Æ÷ÇԵȴÙ.

CPR#
(Customer Priority Rank Number)

VOCÀÇ ¿ì¼±µµ, °í°´ ¿ä±¸ÀÇ ¿ì¼±¼øÀ§¸¦ ¼³Á¤ÇÏ´Â ±âÁØ

CSI
(Chart-Solve
-Implementation)

6½Ã±×¸¶¿¡¼­ Àû¿ëµÇ´Â ¹®Á¦ÇØ°áÀÇ ÀýÂ÷ Áß Çϳª·Î,DMAIC¿Í ¸Æ¶ôÀ» °°ÀÌÇÑ´Ù.C´Ü°è´Â ¹®Á¦ÀÇ Çؼ®À» S´Ü°è´Â ¹®Á¦ÀÇ ÇØ°áÀ» I´Ü°è´Â ½ÇÇàÀ» ¶æÇÑ´Ù.

CSM
(CharacteristicSelection Matrix)

Ư¼º¼±Á¤ ¸ÅÆ®¸¯½º, ÀÛ¼º1´Ü°è¿¡¼­´Â »ùÇøµ °èȹÀ» ÀÛ¼º2´Ü°è¿¡¼­´Â ´Ü±â¿ÍÀå±âÀÇ Ç¥ÁØÆíÂ÷¸¦ »êÃâÇÏ°í Á¦Ç°°ú ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ÆÛÆ÷¸Õ½º ±âÁؼ±À» ¼³Á¤ÇÑ´Ù. 3´Ü°è¿¡¼­´Â ÇÁ·Î¼¼½ºÀÇ ÀáÀçÀû ÆÛÆ÷¸Õ½º¸¦ »êÃâ·ÃßÁ¤ÇÏ°í »êÆ÷¸¦ Á¦°ÅÇÒ ±âȸ¸¦ ¸íÈ®È÷ ÇÑ´Ù. 4´Ü°è¿¡¼­´Â ´Ü±â,Àå±â Z°ª°ú Ç¥ÁØÆíÂ÷¸¦ ºÐ¼®ÇØ ±×·¡ÇÁ·Î ¸¸µç´Ù. 5´Ü°è¿¡¼­´Â Z°ªÀ» ¹Ù²ãº»´Ù. 6´Ü°è¿¡¼­´Â ¸ñÇ¥±¸°£ÀÇ ¹æÇâÀ» °áÁ¤ÇÏ°í ¼öġȸµÇ¾î ÀÖ´Â ¸ñÇ¥¿¡ ¹ÙÅÁÇÏ¿© °èȹÀ» ¼ö¸³ÇÑ´Ù.

CTQ(Critical to Quality)

Á¦Ç°À̳ª ¼­ºñ½º ȤÀº °øÁ¤ÀÇ Æ¯¼º°ªÀ¸·Î¼­ °í°´¿¡°Ô Ä¡¸íÀûÀÌ°í Áö±ØÈ÷ Áß¿äÇÑ ¿ä¼Ò. 6½Ã±×¸¶ÀÇ ÁÖ¿äÇÑ Áöµµ¿ø¸® Áß ÇϳªÀÌ´Ù.

DFSS
(Design for six sigma)

R&DºÎ¹®À» À§ÇÑ 6½Ã±×¸¶ ü°è¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.

DMAIC
(Define-Measure-
Analyze-Improve-
Control)

6½Ã±×¸¶¿¡¼­ Àû¿ëµÇ´Â ¹®Á¦ÇØ°áÀÇ ÀýÂ÷ Áß Çϳª·Î,CSI¿Í ¸Æ¶ôÀ» °°ÀÌÇÑ´Ù.D´Â Á¤ÀǸ¦, MÀº ÃøÁ¤À», A´Â ºÐ¼®À», I´Â °³¼±À», C´Â °ü¸®¸¦ ¶æÇÑ´Ù.

DOE
(Design of Experiment)

½ÇÇè°èȹ¹ýÀÇ ¿µ¾î ¾àÀڷμ­ ½ÇÇèÀ» ÅëÇÑ Á¤º¸ÀÇ È¿À²Àû ȹµæ°ú °ü¸®¸¦ ´Ù·ç´Â Åë°èÇÐÀÇ ºÐ¾ß.

DPMO
(Defect per Million Opportunity)

¹é¸¸°³ ±âȸ´ç °áÇÔ¼ö.

DPO
(Defect per Opportunity)

°áÇÔÀÌ ¹ß»ýÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±âȸ´ç ³ªÅ¸³¯ ¼ö ÀÖ´Â °áÇÔ¼ö¸¦ ÀǹÌÇϸç, ¹ß»ýÇÑ °áÇÔ¼ö¸¦ Àüü ±âȸ¼ö·Î ³ª´©¾î °è»êÇÑ´Ù.

DPU(Defect per Unit)

ÇϳªÀÇ ´ÜÀ§¿¡ Á¸ÀçÇÏ´Â °áÇÔ¼öÀÇ ºñÀ²À» ÀǹÌÇϸç, ¹ß»ýÇÑ °áÇÔ¼ö¸¦ Àüü ´ÜÀ§¼ö·Î ³ª´©¾î¼­ °è»êÇÑ´Ù.

FMEA
(Failure Mode and Effect Analysis)

°íÀå¸ðµå ¿µÇâºÐ¼®ÀÇ ¾àÀÚ·Î ½Ã½ºÅÛÀ» ±¸¼ºÇÏ°í ÀÖ´Â ºÎÇ°µéÀÇ °íÀå¸ðµå°¡ ½Ã½ºÅÛ°ú Ÿ ºÎÇ°¿¡ ¹ÌÄ¡´Â ¿µÇâ,°íÀå¿øÀÎ µîÀ» ¹Ø¿¡¼­ À§·Î Á¶»çÇÏ´Â ¹æ¹ýÀÌ´Ù.

Gage R&R

ÃøÁ¤½Ã½ºÅÛ ÀÚü°¡ °øÁ¤ÀÇ º¯µ¿°ª¿¡ ¾ó¸¶³ª ¿µÇâÀ» ÁÖ´ÂÁö¸¦ °ËÅäÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ̸ç, ÃøÁ¤ÀÇ ¹Ýº¹¼º°ú ÀçÇö¼ºÀ¸·Î ±¸¼ºµÈ´Ù.

Green Belt

°úÇÐÀûÀÎ ±â¹ýÀ» È°¿ëÇØ ¹®Á¦¸¦ ÇØ°áÇÏ´Â 6½Ã±×¸¶ °³¼± È°µ¿ Àü¹®°¡·Î¼­ °³¼±ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿Í ´ã´ç¾÷¹«¸¦ º´ÇàÇÏ¿© ¼öÇàÇÑ´Ù.

HOQ(House of Quality)

Ç°ÁúÀÇ ÁýÀÇ ¾àÀÚ·Î, ƯÈ÷ ½ÅÁ¦Ç°À» °³¹ßÇÒ ¶§ ³íÀǸ¦ °¡´ÉÄÉ ÇØÁÖ´Â Ç°Áú±â´É Àü°³ÀÇ Çٽɼö´ÜÀÌ´Ù.

KPIV
(Key Process Input
Variable)

ÇÁ·Î¼¼½ºÀÇ input¿äÀÎÀ» ÃÑĪÇÏ´Â ¸»,¿¹¸¦ µé¾î ÄÚ½ºÆ®,½Ã°£,ºóµµ µîÀÌ ¿©±â¿¡ ÇØ´çÇÑ´Ù.

KPOV
(Key Process Output
Variable)

ÇÁ·Î¼¼½ºÀÇ ÁÖ¿ä outputº¯¼ö °¢ ÇÁ·Î¼¼½º°¡ ³ºÀº ¼º°ú·Î¼­ ¿äÀΰ£ Àΰú°ü°è°¡ KPOV¸¦ Á¿ìÇÑ´Ù. KPOV´Â CTQ, VOC¿ÍÀÇ Á¤ÇÕ¼ºÀÌ Áß¿äÇÏ´Ù.

Malcolm Baldrige award

¹Ì±¹¿¡¼­ Ç°Áú Çâ»óÀ» ¸ñÀûÀ¸·Î 1987³âºÎÅÍ Á¦Á¶ºÎ¹®,¼­ºñ½ººÎ¹®,Áß¼Ò±â¾÷ºÎ¹®À¸·Î ³ª´©¾î ±â¾÷¿¡°Ô ¼ö¿©ÇÏ´Â Ç°Áú°æ¿µ»óÀÌ´Ù.

Master Black Belt

6½Ã±×¸¶ °æ¿µÀü¹®°¡·Î¼­ °³¼± ÇÁ·ÎÁ§Æ® ½ÇÇàÀÇ Áöµµ Àü´ãÀڷμ­ ºí·¢º§Æ®°¡
¼öÇàÇÏ´Â ÇÁ·ÎÁ§Æ®¿¡ ´ëÇÑ ÀÚ¹®°ú Áöµµ¸¦ Çϸç, ½ÇÇà°úÁ¤¿¡¼­ »ý±â´Â °¢Á¾ ¾Ö·Î »çÇ×À» ÇØ°áÇÏ°í Áö¿øÇÑ´Ù.

MSA
(Measurement System Analysis)

ÃøÁ¤½Ã½ºÅÛ ºÐ¼®, ÃøÁ¤½Ã½ºÅÛ¿¡ °ü·ÃµÈ ÃøÁ¤ µ¥ÀÌÅÍÀÇ ÆíÂ÷ÀÇ ÇüÅÂ¿Í ¾ç¿¡ °üÇÑ Á¤º¸¸¦ ¾ò´Â °Í. »õ·Î¿î ÃøÁ¤±â±â¸¦ ÀÎÁ¤Çϱâ À§ÇÑ ±âÁØÀ» Á¤ºñÇÑ´Ù.

PPM(Parts per Million)

ºÒ·®·üÀ» ¹é¸¸ ´ÜÀ§·Î ȯ»êÇÑ °ªÀ¸·Î ¹é¸¸ °³ÀÇ Á¦Ç°´ç ºÒ·®Ç°ÀÌ ÃâÇöÇÏ´Â ¼ýÀÚ¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.

Process

°í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡ ÀÇÇÏ¿© ÀÚ¿ø ¹× Á¤º¸¸¦ Á¦Ç°°ú ¼­ºñ½º·Î º¯È¯½ÃÅ°´Âµ¥ ÇÊ¿äÇÑ
ÀÏ·ÃÀÇ È°µ¿°ú ÀÛ¾÷À» ¸»ÇÑ´Ù

Process Map

ÇÁ·Î¼¼½º¸¦ ±×¸²À¸·Î ±¸Ã¼È­½ÃÅ´À¸·Î½á ÇÁ·Î¼¼½º°¡ ¼öÇàµÇ´Â °úÁ¤À» ½Ã°è¿­º°,±â´Éº° ȤÀº ´ã´ç ºÎ¼­º°·Î ³ªÅ¸³»°í °¢ ºÎºÐÀÇ ¿¬°á°úÁ¤À» µµ½ÄÈ­ÇÑ °ÍÀÌ´Ù.

QFD
(Quality Function Deployment)

Ç°Áú±â´ÉÀü°³ÀÇ ¿µ¾î¾àÀڷμ­, ÆÄ¾ÇµÈ °í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡¼­ Ãâ¹ßÇÏ¿© ½ÅÁ¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ °³³äÁ¤¸³,¼³°è,ºÎÇ°Àü°³,°øÁ¤Àü°³,Á¦Á¶Àü°³±îÁö ¸ðµç ´Ü°è¸¦ ÅëÇÏ¿© °í°´ÀÌ ¿øÇÏ´Â ¹Ù°¡ ÇÁ·Î¼¼½º ³»ÀÇ °¢ ±â´É°ú ¾î¶² °ü°è¸¦ ¸Î°í ÀÖ´ÂÁö Àü°³ÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù

RSM
(Response Surface Methodology)

¹ÝÀÀÇ¥¸éºÐ¼®ÀÇ ¿µ¾î ¾àÀڷμ­ ¹ÝÀÀº¯¼ö¿Í ¼³¸íº¯¼öµé°£ÀÇ °ü°è¸¦ ±Ô¸íÇÏ°í ÃÖÀûÁ¶°ÇÀ» ã´Â °ÍÀÌ ÁÖ¸ñÀûÀÎ Åë°èÀû ºÐ¼®¹æ¹ýÀÌ´Ù.

RTY
(Rolled Throughput Yield)

Á¾ÇÕ ¼öÀ², ÀüüÀûÀÎ ¼öÀ²°ú °¢ ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ¼öÀ²ÀÇ °ü°è¸¦ ±¸Ã¼È­ÇÏ´Â °³³ä.

Screening

½ÇÇèÀ» ÇÒ¶§ ¼±Á¤µÈ ¸¹Àº ÀÎÀÚ Áß¿¡¼­ ¾î¶² ÀÎÀÚ°¡ Áß¿äÇÑ°¡¸¦ ´Ü°èÀûÀ¸·Î ¼±º°ÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ» ÁöĪÇÑ´Ù.

SPC
(Statistical Process
Control)

Åë°èÀû °øÁ¤°ü¸®ÀÇ ¿µ¾î¾àÀڷμ­ Ç°Áú±Ô°Ý¿¡ ÇÕ°ÝÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Á¦Ç°À» ¸¸µé¾î ³»±â À§ÇÏ¿© Åë°èÀû ¹æ¹ý¿¡ ÀÇÇÏ¿© °øÁ¤À» °ü¸®ÇØ ³ª°¡´Â ±â¹ýÀ» Á¾ÇÕÇÏ¿© ¸»ÇÑ´Ù

TDU
(Total Defects Per Unit)

ÇÁ·Î¼¼½º¸¦ ±¸¼ºÇÏ´Â ´ÜÀ§´ç °áÇÔ ¼ö.

TOP
(Total Opportunities)

ÃÑ ¿¡·¯ ¹ß»ý±âȸ ¼ö=´ÜÀ§ ¼ö X ¿¡·¯ ±âȸ ¼ö

Vital Few

Ãâ·Â Ư¼ºÄ¡¿¡ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â ¿äÀÎ Áß¿¡¼­ Ä¿´Ù¶õ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â Ä¡¸íÀû ¼Ò¼öÀÎÀÚ¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.

Z-Transform

´ÜÀ§ºÐÆ÷·Î º¯È¯ÇÏ´Â °ø½Ä. Zº¯È¯=(°æ°è°ª-Æò±Õ°ª)/Ç¥ÁØÆíÂ÷

Zst

´Ü±â Z°ª, ´Ü±â´É·ÂÀ» ¸»Çϸç 30-50ÀÇ µ¥ÀÌÅÍ Æ÷ÀÎÆ®·Î ÀÌ·ç¾îÁö´Â ½Ã°£(ÀÏ,ÁÖ)´ÜÀ§ÀÇ ´É·ÂÀ» Ç¥½Ã

Zlt

Àå±â Z°ª, Àå±â´É·ÂÀ» ¸»Çϸç 100-200ÀÇ µ¥ÀÌÅÍ Æ÷ÀÎÆ®·Î ÀÌ·ç¾îÁö´Â ½Ã°£(ÁÖ,¿ù)´ÜÀ§ÀÇ ´É·ÂÀ» Ç¥½Ã

                   
               6 Sigma TPM  ¸ÞÀÎÀ¸·Î              È¨ÆäÀÌÁö ÀÚ·á½Ç ¸ÞÀÎÀ¸·Î


 


KTI ¿¬±¸¼ÒÀå/¿î¿µÀÚ : °øÇйڻç(»ê¾÷°øÇÐ)/±â¼ú»ç(Ç°Áú)/±â¼úÁöµµ»ç  ±Ç¿À¿î
Copyright (c) Since 2000 February, Korea TPM Institute. All rights reserved.